首页 ꄲ 定制类系统方案开发 ꄲ X射线光斑测量系统

ꂃ ꁹ

背景介绍：
测量 X 射线光斑尺寸，通常将 X 射线入射到闪烁晶体，基于在 X 射线等高能粒子的撞击下，将高能粒子的动能转变为光能而发出闪光，通过变焦变倍显微镜头对闪光点成像和测量，为科研人员光路调试调节提供参考。
（用户：上海光源）

X射线光斑测量系统

ꁆ ꁇ